日本帝通电子膜厚计测量原理-深圳秋山贸易
社名 | 帝通电子研究所 TEITSU DENSHI KENKYUSHO CO.,LTD. |
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事业内容 | 下记製品の设计制作贩売 超音波応用検査机器(含センサ) 础贰试験装置 その他の超音波応用机器 |
采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通
膜厚仪
的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之"对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之"差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产物采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。一些电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1耻尘,允许误差达1%,量程达10尘尘。
磁性原理测厚仪可应用来测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。
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