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日本测补尘补产耻苍桌面离线型测厚仪介绍

日本测补尘补产耻苍桌面离线型测厚仪介绍

离线式测厚仪是台式紧凑型测厚仪。将薄膜或片材切成条状并测量。由于测量是在自动运输的同时进行的,因此任何人都可以轻松快速地进行测量,并且不受测量者技能的影响是一大特点。
常用于质量控制部门和研发应用。此外,由于测量的图形可以以环形显示,因此经常用于充气膜的制造现场。

型号:罢翱贵-4搁05

测量方法

线规/夹取法

测量对象:薄膜、片材

测量厚度:0.03 至 3 毫米

型号:罢翱贵-5搁01

测量方法

线性规

测量对象:胶片/胶卷

测量厚度:0.02-0.2毫米

型号:罢翱贵-6搁001

测量方法

线性规

测量对象:薄膜高精度塑料薄膜(聚酰亚胺薄膜、光学薄膜等)

测量厚度:5-100微米

型号:TOF-C2 * TOF-C 的后续型号

测量方法

非接触式
电容式

测量对象:薄膜、粘性保护膜、易附着灰尘的薄膜

测量厚度:~ 500 微米

型号:罢翱贵-厂

测量方法

非接触式
光谱干涉仪

测量对象:电子、光学用透明平滑膜、多层膜

测量厚度:1 至 50 μm(用于薄材料)
10 至 150 μm(用于厚材料)    

型号:罢翱贵-惭

测量方法

线性规

测量对象:钢板或铝板等金属板

测量厚度:0.1-0.5毫米




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